„GRGTest Fib“ technologija įgalina tikslią kokybės valdymą
In fields such as material science, electronic manufacturing, and surface engineering, film thickness measurement is a critical step in ensuring product quality and performance. The accuracy of the film layer's thickness directly impacts the product's reliability, functionality, and lifespan. However, traditional film thickness testing methods often face numerous limitations when dealing with complex and diverse samples and high-precision testing Reikalavimai .
Tradicinių plėvelės storio testavimo metodų dilema
1. mėginio paruošimo veidrodžio aptikimo storis: mėginio paruošimas yra sudėtingas, o tikslumas ribotas
Norint išmatuoti mėginio storią, jis pirmiausia turi būti uždarytas epoksidine derva, po to sumalta ir nušlifuota švitriniu popieriumi, ir galiausiai išmatuotas naudojant mikroskopą . Šis procesas reikalauja aukšto lygio mėginio paruošimo, užtikrinant, kad nėra jokio delaminacijos, kad šiluma, o tai gali būti šiluma, o tai gali būti šiluma, o tai gali būti karščio, o tai gali būti sujungiama, o tai gali būti karščiu, o tai gali būti karščiu, o tai gali būti karščio, o tai gali būti karščio, o tai gali būti suformuota, o tai gali būti didelė, o tai gali būti didelė šiluma, o tai gali būti sujungiama. Filmo sluoksnis .
2. XRF fluorescencijos storio matavimas: siauras taikymo diapazonas, nepakankamas tikslumas
„XRF“ fluorescencijos storio matavimas turi būti standartiniai gabalai, atitinkantys metalo ir storio diapazoną, ir negalima išmatuoti nemetalinių plėvelių storio . tuo pačiu metu, kai neardomojo bandymo metodas yra didelė, lygiu žemiau 100 nanometrų, o tai sunku patenkinti aukšto prektinio aptikimo reikalavimus ..
„FIB“ technologija: pereikite prie tradicinių apribojimų, atidarykite naują tikslumo aptikimo skyrių
„GRGTest“ naudoja FIB (fokusuoto jonų pluošto) technologiją, kuri, turėdama unikalų darbo principą ir reikšmingus pranašumus Sudaromas purškimo efektas, efektyviai pašalinant medžiagą ėsdinant .
- Dėl jautrių organinių plėvelių ir kitų mėginių FIB technologija gali nusodinti apsauginį sluoksnį, žymiai sumažinti ėsdinimo proceso poveikį mėginiui, visiškai išvengti šiluminio streso problemos, susidariusios epoksidinės sukietėjimo metu, ir įsitikinkite, kad termiškai jautrus plėvelės sluoksnio veikimas nėra pažeistas .}.
- Filmo pratęsimo problema iš esmės išvengiama naudojant jonų pluošto ėsdinimą .
- Be žinomų apsauginių sluoksnių elementų, FIB technologija bandymo proceso metu nepateikia kitų elementų ir gali visiškai išvengti išorinių taršos elementų trikdžių mėginio paruošimo procese, kad būtų analizuojami filmo sluoksnio paviršiaus ar vidiniai komponentai .
