Paslaugos turinys
IC, kaip svarbi automobilių sudedamoji dalis, yra pagrindinė AEC komiteto nuolatinio dėmesio sritis. AEC-Q100 patikimumo tikrinimas ant IC gali būti suskirstytas į pagreitintą aplinkos įtempių patikimumą, pagreitinto veikimo modeliavimo patikimumą, pakuotės patikimumą, plokštelių proceso patikimumą, elektrinių parametrų patikrinimą, defektų patikrinimą, pakuotės vientisumo bandymą, o bandymo sąlygas reikia pasirinkti remiantis. temperatūros lygį, kurį prietaisas gali atlaikyti.
PatikrinimasAEC-Q100 sertifikavimo bandymaireikalingas plokštelių tiekėjų ir pakavimo bei bandymo gamyklų bendradarbiavimas, o tai toliau tikrina bendrą sertifikavimo bandymų kontrolės galimybę. RGT įvertins klientų IC pagal jų reikalavimus ir standartus ir pateiks pagrįstą sertifikavimo planą, kuris padėtų sertifikuoti IC patikimumą.
Bandymo ciklas
Maždaug 3-4 mėn.
Bandomieji elementai
|
S/N |
Bandomasis elementas |
Santrumpa |
Mėginio numeris/partija |
Partijos numeris |
Bandymo metodas |
|
A grupės pagreitintas aplinkos streso testas |
|||||
|
A1 |
Išankstinis kondicionavimas |
PC |
77 |
3 |
J-STD-020, |
|
JESD22-A113 |
|||||
|
A2 |
Temperatūra-Drėgmė-Poslinkis |
THB |
77 |
3 |
JESD22-A101 |
|
Šališkas HAST |
ŠV. |
JESD22-A110 |
|||
|
A3 |
Autoklavas |
AC |
77 |
3 |
JESD22-A102 |
|
Nešališkas HAST |
UHST |
JESD22-A118 |
|||
|
Temperatūra-drėgmė (be šališkumo) |
TH |
JESD22-A101 |
|||
|
A4 |
Temperatūros važiavimas dviračiu |
TC |
77 |
3 |
JESD22-A104, 3 priedas |
|
A5 |
Galios temperatūros ciklas |
PTC |
45 |
1 |
JESD22-A105 |
|
A6 |
Laikymo trukmė aukštoje temperatūroje |
HSTL |
45 |
1 |
JESD22-A103 |
|
B grupės pagreitinto gyvenimo modeliavimo testas |
|||||
|
B1 |
Eksploatavimo laikas aukštoje temperatūroje |
HTOL |
77 |
3 |
JESD22-A108 |
|
B2 |
Ankstyvojo gyvenimo nesėkmių rodiklis |
ELFR |
800 |
3 |
AEC-Q100-008 |
|
B3 |
NVM patvarumas, duomenų saugojimas ir eksploatavimo laikas |
EDR |
77 |
3 |
AEC-Q100-005 |
|
C grupės Inkapsuliacijos vientisumo bandymas |
|||||
|
C1 |
Vielos klijavimo kirpimas |
WBS |
30 jungiamųjų laidų mažiausiai 5 įrenginiuose |
AEC-Q100-001, AEC-Q003 |
|
|
C2 |
Vielos sujungimo traukimas |
WBP |
MIL-STD883 metodas, 2011 m. |
||
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C3 |
Lituojamumas |
SD |
15 |
1 |
JESD22-B102或 J-STD-002D |
|
C4 |
Fiziniai matmenys |
PD |
10 |
3 |
JESD22-B100, JESD22-B108 |
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C5 |
Litavimo rutulinis žirklės |
SBS |
Bent 5 surišimo rutuliai 10 įrenginių |
3 |
AEC-Q100-010, |
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C6 |
Švino vientisumas |
LI |
Bent 10 laidų 5 įrenginiams |
1 |
JESD22-B105 |
|
D grupės plokštelių gamybos patikimumo bandymas |
|||||
|
D1 |
Elektromigracija |
EM |
/ |
/ |
/ |
|
D2 |
Laiko priklausomas dielektrinis suskirstymas |
TDDB |
/ |
/ |
/ |
|
D3 |
Karšto nešiklio įpurškimas |
HCI |
/ |
/ |
/ |
|
D4 |
Neigiamas poslinkio temperatūros nestabilumas |
NBTI |
/ |
/ |
/ |
|
D5 |
Streso migracija |
SM |
/ |
/ |
/ |
|
E grupė Elektrinio patikrinimo bandymai |
|||||
|
E1 |
Funkcija prieš ir po streso / parametras |
TESTAS |
Visi pavyzdžiai, reikalingi testavimui nepalankiausiomis sąlygomis atliekant elektros bandymus |
Tiekėjo ar vartotojo specifikacijos |
|
|
E2 |
Elektrostatinės iškrovos žmogaus kūno modelis |
HBM |
Pamatinė bandymo specifikacija |
1 |
AEC-Q100-002 |
|
E3 |
Elektrostatinės iškrovos įkrauto įrenginio modelis |
ŠPM |
Pamatinė bandymo specifikacija |
1 |
AEC-Q100-011 |
|
E4 |
Užraktas |
LU |
6 |
1 |
AEC-Q100-004 |
|
E5 |
Elektros paskirstymai |
ED |
30 |
3 |
AEC Q100-009 |
|
AEC Q003 |
|||||
|
E6 |
Gedimų įvertinimas |
FG |
- |
- |
AEC-Q100-007 |
|
E7 |
Charakteristika |
CHAR |
- |
- |
AEC-Q003 |
|
E9 |
Elektromagnetinis suderinamumas |
EMS |
1 |
1 |
SAE J1752 / 3- |
|
E10 |
Trumpojo jungimo apibūdinimas |
SC |
10 |
3 |
AEC-Q100-012 |
|
E11 |
Minkštas klaidų lygis |
SER |
3 |
1 |
JEDEC |
|
JESD89-1 |
|||||
|
JESD89-2 arba JESD89-3 |
|||||
|
E12 |
Švinas (Pb) Nemokamas |
LF |
Pamatinė bandymo specifikacija |
Pamatinė bandymo specifikacija |
AEC-Q005 |
|
F grupės defektų atrankos testas |
|||||
|
F1 |
Proceso vidutinis testavimas |
PAT |
/ |
/ |
AEC-Q001 |
|
F2 |
Statistinė dėžės/išeigos analizė |
SBA |
/ |
/ |
AEC-Q002 |
|
G grupė Sandarinimo ir pakuotės vientisumo bandymas |
|||||
|
G1 |
Mechaninis smūgis |
MS |
15 |
1 |
JESD22-B104 |
|
G2 |
Kintamo dažnio vibracija |
VFV |
15 |
1 |
JESD22-B103 |
|
G3 |
Nuolatinis pagreitis |
CA |
15 |
1 |
MIL-STD883 metodas 2001 m |
|
G4 |
Didelis / smulkus nuotėkis |
GFL |
15 |
1 |
MIL-STD883 1014 metodas |
|
G5 |
Paketo kritimas |
NULEISTI |
5 |
1 |
/ |
|
G6 |
Dangčio sukimo momentas |
LT |
5 |
1 |
MIL-STD883 metodas 2024 m |
|
G7 |
Die Shear |
DS |
5 |
1 |
MIL-STD883 metodas 2019 m |
|
G8 |
Vidiniai vandens garai |
IWV |
5 |
1 |
MIL-STD883 1018 metodas |
Populiarus Žymos: aec-q100 sertifikavimo testavimas, Kinijos aec-q100 sertifikavimo testavimo paslaugų teikėjas
