paslaugos turinys
TEM (šviesūs-lauko vaizdai, ne-ašies tamsūs-lauko vaizdai, centre tamsūs-lauko vaizdai, didelės-raiškos vaizdai, silpni-spinduliuoti tamsūs-lauko vaizdai); STEM (HAADF vaizdai, DF vaizdai, BF vaizdai, EDS energijos spektrai, iDPC vaizdai); difrakcija (selektyvinė difrakcija, konvergentinė{7}}spindulio difrakcija, nanopluošto difrakcija)
paslaugos laipsnis
Su lustu{0}}susiję sektoriai (plokščių gamyklos, puslaidininkinės įrangos gamintojai, lustų projektavimo įmonės ir kt.); Su medžiagomis-susiję sektoriai (universitetai, tyrimų institutai ir medžiagų tyrimų ir plėtros įmonės).
Bandymo ciklas
Įprastas apdorojimo laikas: 5-7 darbo dienos.
Paslaugos fonas
Suintensyvėjus technologinėms blokadoms užsienyje, vietinės aukštųjų -technologijų įmonės daugiau dėmesio skiria nepriklausomų lustų tyrimų ir plėtros galimybėms, o tai paskatino puslaidininkinės įrangos gamybos bumą šalyje. Kadangi lustų gamybos procesai ir toliau mažėja, lustų ir puslaidininkinės įrangos kūrimas vis labiau priklauso nuo mikroskopinių analizės priemonių, tokių kaip TEM. Perdavimo elektronų mikroskopija (TEM) atlieka nepakeičiamą vaidmenį medžiagų tyrimuose ir plėtroje. Jame pateikiama svarbi mikroskopinė struktūrinė informacija,{4}}įskaitant kristalų struktūras, defektus, elementų sudėtį ir koncentracijas,-kuri padeda analizuoti medžiagos savybes ir elgesį. Technika taip pat
palengvina fazių perėjimų ir difuzijos procesų tyrimus, suteikdama vertingų įžvalgų apie medžiagų projektavimą ir optimizavimą.
mūsų pranašumai
„Guangdian Metrology“ specializuojasi TEM analizės testavimo technologijoje ir gali pasigirti{0}}pramonės lyderiaujančia ekspertų komanda ir pažangia TEM analizės įranga (Talos F200X G2). Mes teikiame pritaikytus TEM analizės testavimo sprendimus, pritaikytus įvairių klientų MTEP poreikiams. Mūsų įmonė turi FIB{5}}TEM analizės galimybes pažangiems procesams iki 7 nm ir mažesniems.
bylos dalis
Populiarus Žymos: tem vaizdo gavimo ir analizės, Kinijos tem vaizdo gavimo ir analizės paslaugų teikėjas
